Home CMS Production Clean room MedAustron HEPHY testbeams old
electronics module assembly SiDDaTA scratch
  HEPHY logbook of the Electronics Group, Page 4 of 4  Not logged in ELOG logo
New entries since:Thu Jan 1 01:00:00 1970
Entry  Wed May 7 19:05:08 2008, Christian Irmler, SPS Testbeam June08, module, module 04/04, properties (noise, intcal), APVs bonded to the sensor 12x
Module tested with 1 and 2 rows bonded to the sensor, respectively. 
HV = 100 V
Ibias (100 V) = 27.8 nA
Ibias (200 V) = 32.7 nA
Entry  Fri May 9 09:56:15 2008, Christian Irmler, SPS Testbeam June08, module, module 06/03, properties (noise, intcal), APVs bonded to the sensor 12x
Module tested with 1 and 2 rows bonded to the sensor, respectively. 
HV = 100 V
Ibias (100 V) = 26.5 nA
Ibias (200 V) = 37.8 nA
Entry  Fri May 9 10:00:34 2008, Christian Irmler, SPS Testbeam June08, module, module 03/10, properties (noise, intcal), APVs bonded to the sensor 12x
Module tested with 1 and 2 rows bonded to the sensor, respectively. 
HV = 100 V
Ibias (100 V) = 18.9 nA
Ibias (200 V) = 25.5 nA
Entry  Fri May 9 10:04:26 2008, Christian Irmler, SPS Testbeam June08, module, module 05/05, properties (noise, intcal), APVs bonded to the sensor 12x
Module tested with 1 and 2 rows bonded to the sensor, respectively. 
HV = 100 V
Ibias (100 V) = 18.0 nA
Ibias (200 V) = 23.6 nA
ELOG V3.1.5-fc6679b